*001810358
*00520250613134011.0
*007cr
*007ta
*008140225s1996    no            000 0 eng
*00901548cam a2200361 c 4500
*019  $bl
*020  $a8247100207
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999703108974702201
*035  $a(NO-LaBS)14364971(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)093840373
*035  $a(NO-TrBIB)970310897
*035  $a970310897-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a537.311.322
*080  $a537.311.322:535
*1001 $aLaheld, Ulf E.H.$0(NO-TrBIB)90696796$_98806200
*24510$aSemiconductor heterostructures :$belectronic and optical properties$cby Ulf Erling Hvam Laheld
*260  $aTrondheim$bInstitutt for fysikk, Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet$c1996
*300  $a1 b. (flere pag.)$bill.
*4901 $aDoktor ingeniøravhandling$v1996:125
*502  $aAvhandling (dr.ing.) - Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet, 1996
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2009-11-10
*650 7$aHalvledere (Fysikk)$2tekord$_187531200
*650 7$aHalvledere$xElektriske egenskaper$2tekord$_191473700
*650 7$aHalvledere$xOptiske egenskaper$2tekord$_186948800
*653  $adoktoringeniør$afysikk$aelektronfysikk$_24684700
*7102 $aNorges teknisk-naturvitenskapelige universitet$bInstitutt for fysikk$0(NO-TrBIB)90926175$_204431700
*830 0$aDoktor ingeniøravhandling (Trondheim : trykt utg.)$x0809-103x$v1996:125$w998711741544702201$_13104400
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2009111000036$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*917  $ad
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999703108974702202$b2021-11-14T20:51:34Z$z999703108974702202
^