*001695231
*00520250613133612.0
*007cr
*007ta
*008121213s1990    no            000 0 nob
*00901230cam a2200313 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259562413
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999103014254702201
*035  $a(NO-LaBS)14086373(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)10265770x
*035  $a(NO-TrBIB)910301425
*035  $a910301425-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a621.3.049.77.001.4
*080  $a621.38.019.3
*1001 $aPedersen, Ulf P.$0(NO-TrBIB)90233137$_98041400
*24510$aRealisering av selvtest-struktur og testkontroll i henhold til test-standard IEEE.1149.1$cUlf Pedersen og Einar J. Aas
*260  $aTrondheim$bELAB-RUNIT, SINTEF-gruppen$c1990
*300  $aIV, 67, [10] bl.$bfig.
*4901 $aELAB-RUNIT rapport$vSTF40 A90224
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2010-11-22
*650 7$aElektronikk$xPrøving$2tekord$_188675500
*650 7$aintegrerte$akretser$aprøving$2tekord$_188675600
*7001 $aAas, Einar J.$d1943-$0(NO-TrBIB)90077458$_30035500
*830 0$aELAB-RUNIT rapport (trykt utg.)$vSTF40 A90224$w998900566764702201$_19072200
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2010112208146$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999103014254702202$b2021-11-14T20:42:46Z$z999103014254702202
^