*001439119
*00520250613133907.0
*007ta
*008110826s1991    no            000 0 eng
*00901209cam a2200277 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259563347
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999115229644702201
*035  $a(NO-LaBS)15115412(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)911522964
*035  $a911522964-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a539.124.172
*1001 $aBakken, Lars Nils$0(NO-TrBIB)90526680$_49045200
*24510$aNumerical minimalization procedures for quantitative structure parameter determination from convergent beam electron diffraction patterns$cL. N. Bakken, K. Marthinsen and R. Høier
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Applied Physics$c1991
*300  $a[5] bl.
*4901 $aSINTEF report$vSTF19 A91021
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2016-12-08
*650 7$aElektroner$xSpredning$2tekord$_187773600
*7001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*7001 $aMarthinsen, Knut$0(NO-TrBIB)90095306$_37051300
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A91021$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2016120848121$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999115229644702202$b2021-11-14T20:20:55Z$z999115229644702202
^