*001474427
*00520230331120353.0
*007cr
*007ta
*008120130s1995    xx#           000 0 nob
*00901106cam a2200277 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259589109
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999508780734702201
*035  $a(NO-LaBS)13839130(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)111534313
*035  $a(NO-TrBIB)950878073
*035  $a950878073-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a681.3.06
*1001 $aJohnsen, Tore$0(NO-TrBIB)90621502$_76451900
*24510$aBrukerveiledning for The SemiLyzer ver 1.0 :$ben LabVIEW applikasjon for DC karakterisering av HEMTer og andre elektroniske komponenter$cTore Johnsen
*260  $aOslo$bSINTEF, Instrumentering$c1995
*300  $a30 bl.$bill.
*4901 $aSINTEF rapport / SINTEF$vSTF31 A95012
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2011-01-24
*650 7$aSemiLyzer$2tekord$_189941900
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Avdeling for instrumentering)$vSTF31 A95012$w999418480354702201$_15561800
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2011012408006$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999508780734702202$b2021-11-14T20:23:31Z$z999508780734702202
^