*001209825
*00520250613141728.0
*007ta
*008990830s1999    no            000 u nob
*00901118cam a2200253 c 4500
*019  $bl
*020  $a8214004586
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999904989484702201
*035  $a(NO-LaBS)13660239(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)990498948
*035  $a990498948-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*1001 $aØien, Knut$0(NO-TrBIB)90752159$_15087600
*24510$aMetode for å utarbeide tekniske risikoindikatorer$cKnut Øien og Snorre Sklet
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Teknologiledelse, Sikkerhet og pålitelighet$c1999
*300  $a29 bl.$bill.
*4901 $aSINTEF rapport / SINTEF, Teknologiledelse, Sikkerhet og pålitelighet$vSTF38 A98434
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2016-02-16
*653  $arisikoanalyse$asikkerhet$_45467700
*7001 $aSklet, Snorre$0(NO-TrBIB)90645366$_25102700
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Avdeling for sikkerhet og pålitelighet : trykt utg.)$vSTF38 A98434$w998710490744702201$_13547100
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2016021608019$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999904989484702202$b2021-11-14T19:57:13Z$z999904989484702202
^