*001136827
*00520250613131356.0
*007ta
*008110826s1992    no            000 u nno
*00901333cam a2200313 c 4500
*019  $bl
*020  $a8259571528
*035  $a(EXLNZ-47BIBSYS_NETWORK)999210784804702201
*035  $a(NO-LaBS)14310779(bibid)
*035  $a(NO-TrBIB)92107848x
*035  $a92107848x-47bibsys_network
*040  $aNO-OsNB$bnob$ekatreg
*080  $a537.533.5
*080  $a621.315.592.3
*1001 $aSkurdal, Bjarne$0(NO-TrBIB)90401343$_35617100
*24510$aElektronmikroskopering$cBjarne Skurdal og Ragnvald Høier
*24614$aElektronmikroskopering av GaAs/GaInAs heterostrukturar ved bruk av kløyvde, kilforma prøver
*260  $aTrondheim$bSINTEF, Anvendt fysikk$c1992
*300  $a15 bl.$bill.
*4901 $aSINTEF rapport$vSTF19 A92010
*533  $aElektronisk reproduksjon$b[Norge]$cNasjonalbiblioteket Digital$d2015-11-16
*650 7$aElektronmikroskopi$2tekord$_187335500
*650 7$aGalliumarsenid (Halvledere)$2tekord$_186897700
*7001 $aHøier, Ragnvald$d1938-2009$0(NO-TrBIB)90095307$_35617200
*7400 $aElektronmikroskopering av GaAs/GaInAs heterostrukturar ved bruk av kløyvde, kilforma prøver
*830 0$aSINTEF rapport (SINTEF. Målefysisk laboratorium : trykt utg.)$vSTF19 A92010$w998110210764702201$_14526900
*85641$3Fulltekst$uhttps://urn.nb.no/URN:NBN:no-nb_digibok_2015111608068$yNettbiblioteket$zDigital representasjon
*901  $a80
*999  $aoai:nb.bibsys.no:999210784804702202$b2021-11-14T19:51:27Z$z999210784804702202
^